In diesem Buch werden mehrere neue Ansatze vorgestellt, die den Weg fur die nachste Generation integrierter Schaltungen ebnen, die auch in sicherheitskritischen Anwendungen erfolgreich und zuverlassig integriert werden konnen. Die Autoren beschreiben neue Manahmen zur Bewaltigung der steigenden Herausforderungen im Bereich des Designs fur Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlassigkeit, die fur moderne Schaltungsentwurfe unbedingt erforderlich sind. Insbesondere werden in diesem Buch formale Techniken wie das Satisfiability (SAT)-Problem und das Bounded Model Checking (BMC) kombiniert, um die entstehenden Herausforderungen in Bezug auf die Zunahme des Testdatenvolumens, die Testanwendungszeit und die erforderliche Zuverlassigkeit zu bewaltigen. Alle Methoden werden detailliert diskutiert und unter Berucksichtigung von industrie-relevanten Benchmark-Kandidaten ausfuhrlich evaluiert. Alle Manahmen wurden in ein gemeinsames Framework integriert, das standardisierte Software/Hardware-Schnittstellen implementiert.
